[发明专利]电子芯片的测试系统、方法及装置在审
| 申请号： | 201510818808.5 | 申请日： | 2015-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN105467295A | 公开（公告）日： | 2016-04-06 |
| 发明（设计）人： | 彭俊良 | 申请（专利权）人： | 硅谷数模半导体(北京)有限公司;硅谷数模国际有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 韩建伟;张永明 |
| 地址： | 100086 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电子芯片的测试系统、方法及装置。其中，该系统包括：计算机，通过数据接口与待测芯片相连接，用于识别待测芯片的显示参数，生成与显示参数相匹配的测试图像，并将测试图像发送至待测芯片，其中，测试图像为用于测试待测芯片的图像；以及控制器，与待测芯片相连接，用于对待测芯片利用测试图像进行测试的过程进行控制，并检测待测芯片的测试结果。本发明解决了相关技术中电子芯片的自动测试设备因其内部带有flash、DDR存储模块，导致自动测试系统的硬件成本较高、软件开发周期较长的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 芯片 测试 系统 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种电子芯片的测试系统，其特征在于，包括：计算机，通过数据接口与待测芯片相连接，用于识别所述待测芯片的显示参数，生成与所述显示参数相匹配的测试图像，并将所述测试图像发送至所述待测芯片，其中，所述测试图像为用于测试所述待测芯片的图像；以及控制器，与所述待测芯片相连接，用于对所述待测芯片利用所述测试图像进行测试的过程进行控制，并检测所述待测芯片的测试结果。
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