[发明专利]压接高度测定装置和压接高度测定方法在审

专利信息
申请号: 201510828928.3 申请日: 2015-11-25
公开(公告)号: CN105652142A 公开(公告)日: 2016-06-08
发明(设计)人: 山口裕司 申请(专利权)人: 矢崎总业株式会社
主分类号: G01R31/04 分类号: G01R31/04;G01B7/02
代理公司: 北京奉思知识产权代理有限公司 11464 代理人: 吴立;邹轶鲛
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提高基于峰值负荷的压接高度的测定精度。压接高度测定装置100包括:校正从压电元件110和负荷检测部101输出的负荷波形并输出已校正负荷波形的负荷波形校正部102;根据已校正负荷波形来算出在压接动作中附加在端子51的峰值负荷P的峰值负荷算出部103;基于峰值负荷P来算出由端子压接装置200制作的压接端子51的压接高度CH的压接高度算出部104。负荷波形校正部102基于由负荷检测部101的电容的电容量C、和电阻的电阻值R决定的放大电路的放电时间常数C·R,来校正负荷波形。
搜索关键词: 高度 测定 装置 方法
【主权项】:
一种压接高度测定装置,其特征在于,包括:压电元件,其设置于在压接机和砧之间进行将端子与电线压接的压接动作来制作压接端子的端子压接装置,并在所述压接动作中根据所述压接机和所述砧附加在所述端子的负荷的变化来产生电荷;负荷检测部,其将由所述压电元件产生的所述电荷转换为电压,将转换的所述电压的时间推移输出作为所述压接动作中的所述负荷的时间推移即负荷波形;负荷波形校正部,其校正从所述负荷检测部输出的所述负荷波形并输出已校正负荷波形;峰值负荷算出部,其根据由所述负荷波形校正部校正的所述已校正负荷波形,算出在所述压接动作中附加在所述端子的所述负荷的最大值即峰值负荷;以及压接高度算出部,其基于由所述峰值负荷算出部算出的所述峰值负荷,算出由所述端子压接装置制作的所述压接端子的压接高度,所述负荷检测部包含放大电路,所述放大电路具有电容和电阻,将所述压电元件所产生的所述电荷充电到所述电容,根据充电到所述电容的电荷来输出所述电压,并且利用所述电阻来使充电到所述电容的所述电荷放电,所述负荷波形校正部基于由所述负荷检测部的所述电容的电容量、和所述电阻的电阻值决定的所述放大电路的放电时间常数,来校正所述负荷波形。
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