[发明专利]固化度测定装置及固化度测定方法有效
申请号: | 201510834232.1 | 申请日: | 2015-11-25 |
公开(公告)号: | CN105675552B | 公开(公告)日: | 2020-03-06 |
发明(设计)人: | 古贺晶子 | 申请(专利权)人: | NOK株式会社 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 北京思益华伦专利代理事务所(普通合伙) 11418 | 代理人: | 郭红丽 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及固化度测定装置及固化度测定方法。其消除了像IR那样的读取基材峰值的不确定性的现有技术问题且不需要样品收集,可以无破坏地测定粘接剂的固化度。固化度测定装置具备向固化度测定样品的粘接剂部位照射紫外线或可见光线的照射部、输入接受紫外线或可见光线而发光的荧光的探针、从探针导入的荧光读取荧光光谱数据的读取部、根据该数据计算峰顶波长的峰顶波长计算部和根据峰顶波长计算固化度的固化度计算部,由峰顶波长计算部计算固化前固化度0%和完全固化后固化度100%的测定样品的峰顶波长,由固化度计算部求得各峰顶波长和固化度的关系式,将硬度未知的固化度测定样品的峰顶波长导入关系式,计算与该峰顶波长对应的样品固化度。 | ||
搜索关键词: | 固化 测定 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种固化度测定装置,其特征在于,包括:照射部,其向固化度测定样品的粘接剂部位照射紫外线或可见光线;探针,其输入了接受由所述照射部照射的紫外线或可见光线而发光的荧光;读取部,其从自所述探针导入的荧光读取荧光光谱数据;峰顶波长计算部,其根据由该读取部读取的所述荧光光谱数据而计算峰顶波长;固化度计算部,其根据由该峰顶波长计算部算出的峰顶波长而计算固化度,其中,由所述峰顶波长计算部计算固化前的固化度0%的测定样品的峰顶波长和完全固化后的固化度100%的测定样品的峰顶波长,由所述固化度计算部求得所述各个峰顶波长和固化度的下述关系式(1),[数学式1][在此,式中、A为未知的样品的峰顶波长(nm),X0%为固化度0%的样品的峰顶波长(nm),X100%为固化度100%的样品的峰顶波长(nm)。]将硬度未知的固化度测定样品的峰顶波长导入所述关系式(1),计算与该峰顶波长对应的所述样品的固化度。
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