[发明专利]用于确定磁共振设备的基本匀场设置的方法有效
| 申请号： | 201510835573.0 | 申请日： | 2015-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN105652226B | 公开（公告）日： | 2019-04-05 |
| 发明（设计）人： | A.杜德尼 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | G01R33/3873 | 分类号： | G01R33/3873;G01R33/3875 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 熊雪梅;冯欢 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及用于确定磁共振设备的基本匀场设置的方法，还涉及计算单元、计算机程序产品、磁共振设备和系统。为了改进磁共振设备的基本匀场设置的计算，提出了用于确定磁共振设备的基本匀场设置的方法，基本匀场设置包括多个匀场元件的空间分布，包括以下方法步骤：‑建立优化函数，其包括多个优化参数，其中多个优化参数的第一优化参数包括磁共振设备中的借助基本匀场设置所设置的B0分布的均匀性值并且多个优化参数的第二优化参数包括作用于多个匀场元件的力的值，‑计算多个匀场元件的空间分布，使得优化函数在考虑第一优化参数和第二优化参数的条件下被最小化，和‑在使用所计算的多个匀场元件的空间分布的条件下确定磁共振设备的基本匀场设置。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 磁共振 设备 基本 设置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于确定磁共振设备的基本匀场设置的方法，其中，所述基本匀场设置包括多个匀场元件的空间分布，包括以下方法步骤：‑建立优化函数，所述优化函数包括多个优化参数，其中，多个优化参数的第一优化参数包括磁共振设备中的借助基本匀场设置所设置的B0分布的均匀性值并且多个优化参数的第二优化参数包括作用于所述多个匀场元件的力的值，其中第一优化参数和第二优化参数加权地代入优化函数，‑将所述多个匀场元件的空间分布计算为使得优化函数在同时考虑第一优化参数和第二优化参数的条件下被最小化，和‑在使用所计算的多个匀场元件的空间分布的条件下确定磁共振设备的基本匀场设置。
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