[发明专利]一种提取寄生电阻的方法及系统有效
申请号: | 201510849739.4 | 申请日: | 2015-11-27 |
公开(公告)号: | CN106815380B | 公开(公告)日: | 2020-08-18 |
发明(设计)人: | 吴玉平;陈岚 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | G06F30/23 | 分类号: | G06F30/23;G06F30/392 |
代理公司: | 北京维澳专利代理有限公司 11252 | 代理人: | 李轩;吴兰柱 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种提取寄生电阻的方法,包括以下步骤:对集成电路版图数据进行仿真;获取集成电路版图仿真数据;根据集成电路工艺参数对所述集成电路版图仿真数据进行寄生电阻提取。本发明还提供一种提取寄生电阻的系统。本发明方案能够有效解决集成电路制造过程中实际制造与集成电路设计的几何图形偏差而造成提取寄生电阻不精确的问题,提高寄生电阻提取的精确度。 | ||
搜索关键词: | 一种 提取 寄生 电阻 方法 系统 | ||
【主权项】:
一种提取寄生电阻的方法,其特征在于,包括以下步骤:对集成电路版图数据进行仿真;获取集成电路版图仿真数据;根据集成电路工艺参数对所述集成电路版图仿真数据进行寄生电阻提取。
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