[发明专利]磁检测装置和包括磁检测装置的转矩传感器在审

专利信息
申请号: 201510849754.9 申请日: 2015-11-27
公开(公告)号: CN105651436A 公开(公告)日: 2016-06-08
发明(设计)人: 高桥良树;深谷繁利 申请(专利权)人: 株式会社电装
主分类号: G01L3/10 分类号: G01L3/10
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 杜诚;李春晖
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 公开了磁检测装置和包括磁检测装置的转矩传感器。孔被形成在磁检测装置的基底(40)中并且孔与基底(40)的外边缘间隔开。磁传感器(45)的磁检测元件(511、521)检测第一和第二收集器部(215、225)处形成的磁场。模制部(46)封闭磁检测元件(511、521)。磁传感器(45)被表面安装,使得模制部(46)的一部分与孔交叠。第一收集器部(215)面向磁传感器(45)的前表面(451)。第二收集器部(225)的一部分被定位在孔中以面向磁传感器(45)的后表面(452)。因此,与没有设置孔的情况相比,可以减小第一与第二收集器部(215、225)之间的磁路间隙(G)。
搜索关键词: 检测 装置 包括 转矩 传感器
【主权项】:
一种磁检测装置,包括:第一磁收集器(21、610、650),其包括第一收集器部(215、615、657);第二磁收集器(22、620),其包括第二收集器部(225、625),所述第二收集器部隔开固定距离面向所述第一收集器部;基底(40、60、62、64),其具有外边缘,孔(41、61、63、65)与所述外边缘间隔开地被形成在所述基底中;以及磁传感器(45),其包括磁检测元件(511、521)、模制部(46)和端子(47),所述磁传感器被表面安装,使得所述模制部的至少一部分与所述孔交叠,其中所述磁检测元件被设置在所述第一收集器部和所述第二收集器部之间并检测磁场的强度,所述模制部封闭所述磁检测元件,所述端子从所述模制部伸出并连接至所述基底,所述第一收集器部被定位成面向所述磁传感器的前表面(451),所述前表面的朝向背离所述基底,并且所述第二收集器部的至少一部分被定位在所述孔中以面向所述磁传感器的后表面(452),所述后表面面向所述基底。
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