[发明专利]用于制造半导体器件的方法在审
申请号: | 201510918239.1 | 申请日: | 2015-12-10 |
公开(公告)号: | CN105789074A | 公开(公告)日: | 2016-07-20 |
发明(设计)人: | 冲嶋和彦 | 申请(专利权)人: | 瑞萨电子株式会社 |
主分类号: | H01L21/603 | 分类号: | H01L21/603 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 李辉;董典红 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本申请涉及用于制造半导体器件的方法。包括在将焊料材料以熔化状态涂覆在裸片焊盘上方的同时将校正工具按压在半导体芯片的主表面上并使焊料材料硬化的步骤以及从芯片释放校正工具并将芯片安装在裸片焊盘上方的步骤。校正工具包括第一部分和第二部分,第一部分具有第一表面作为沿着用于支撑裸片焊盘的支撑部件的支撑表面的表面,第二部分具有与第一表面相交的第二表面。在芯片倾斜校正工艺中,在校正工具的第一表面被按压在芯片的上表面上并且校正工具的第二部分被按压在引线框上的同时焊料材料被硬化。 | ||
搜索关键词: | 用于 制造 半导体器件 方法 | ||
【主权项】:
一种用于制造半导体器件的方法,包括以下步骤:(a)利用接合材料涂覆引线框的芯片安装区域;(b)在步骤(a)之后,在所述接合材料上方放置半导体芯片;(c)在步骤(b)之后,在所述接合材料处于熔化状态的情况将工具按压在所述半导体芯片的上表面上,然后使所述接合材料硬化;以及(d)在步骤(c)之后,从所述半导体芯片释放所述工具,并通过所述接合材料将所述半导体芯片安装在所述芯片安装区域上方;其中,所述工具包括第一部分和第二部分,所述第一部分具有第一表面作为沿着用于支撑所述芯片安装区域的支撑部件的支撑表面的表面,所述第二部分具有与所述第一表面相交的第二表面,并且其中,在步骤(c)中,在所述工具的所述第一部分的所述第一表面被按压在所述半导体芯片的上表面上并且所述工具的所述第二部分被按压在所述引线框上的同时,所述接合材料被硬化。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造