[发明专利]一种用于测量晶体分辨率的实验平台

摘要

本发明公开了一种用于测量晶体分辨率的实验平台，包括：底座；两个探测器，两个所述探测器分别可移动地安装在所述底座上，并且两个所述探测器的检测端面对面设置；晶体座，所述晶体座上端设有用于安放晶体的卡接部，所述晶体座安装在所述底座上，并且位于两个所述探测器之间；以及处理装置分与两个探测器电信号连接。由于两个探测器分别位于晶体座的两侧，使得两个探测器可同时对晶体座上的晶体进行探测，获取晶体上闪烁光的光信号并将其转化为电信号，处理装置获取两个探测器分别转化的电信号，根据两个电信号可计算出闪烁光子在晶体上的具体位置，再通过该具体位置得出的测量响应曲线更加接近实际响应曲线，即提高了测量的分辨率。

主权项

一种用于测量晶体分辨率的实验平台，其特征在于，包括：底座；两个探测器，两个所述探测器分别可移动地安装在所述底座上，并且两个所述探测器的检测端面对面设置，所述探测器用于从晶体内获取光信号并将所述光信号转化为电信号；晶体座，所述晶体座上端设有用于安放晶体的卡接部，所述晶体座安装在所述底座上，并且位于两个所述探测器之间；测量时，两个所述探测器移动至所述晶体座的两侧，两个所述探测器的检测端分别与所述晶体座上晶体的两端贴合，并且两个所述探测器和晶体三者中心对齐；以及处理装置，所述处理装置分与两个所述探测器电信号连接，用于获取两个所述探测器分别转化的两个所述电信号，并根据两个所述电信号计算出闪烁光位于晶体的位置。