[发明专利]一种视准线变形测量方法在审
申请号: | 201510932848.2 | 申请日: | 2015-12-15 |
公开(公告)号: | CN105571559A | 公开(公告)日: | 2016-05-11 |
发明(设计)人: | 邱山鸣;廖佳;赫晓光 | 申请(专利权)人: | 中国电建集团中南勘测设计研究院有限公司 |
主分类号: | G01B21/32 | 分类号: | G01B21/32 |
代理公司: | 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 | 代理人: | 卢宏;王娟 |
地址: | 410014 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: |
本发明公开了一种视准线变形测量方法,利用下式计算长距离视准线第i个测点相对于基准线的第k次周期观测偏离值δi(k): |
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搜索关键词: | 一种 准线 变形 测量方法 | ||
【主权项】:
一种视准线变形测量方法,其特征在于,利用下式计算视准线第i个测点相对于基准线的第k次周期观测偏离值δi(k):![]()
其中,n为视准线的测点个数;Δj(k)为第j个测点相对于以第j‑1个测点和第j+1个测点的连线为基准线的第k次周期观测局部偏离值;Δr(k)为第r个测点相对于以第r‑1个测点和第r+1个测点的连线为基准线的第k次周期观测局部偏离值;r=2,3,…,n+1;n+1为视准线的端点;则所述第i个测点的变形值为第i个测点第k次周期观测偏离值与第i‑1个测点第1次周期观测偏离值之差。
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