[发明专利]一种视准线变形测量方法在审

专利信息
申请号: 201510932848.2 申请日: 2015-12-15
公开(公告)号: CN105571559A 公开(公告)日: 2016-05-11
发明(设计)人: 邱山鸣;廖佳;赫晓光 申请(专利权)人: 中国电建集团中南勘测设计研究院有限公司
主分类号: G01B21/32 分类号: G01B21/32
代理公司: 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 代理人: 卢宏;王娟
地址: 410014 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种视准线变形测量方法,利用下式计算长距离视准线第i个测点相对于基准线的第k次周期观测偏离值δi(k):其中,n为长距离视准线的测点个数;△j(k)为第j个测点相对于以第j-1个测点和第j+1个测点的连线为基准线的第k次周期观测局部偏离值;r=2,3,…,n+1;则所述第i个测点的变形值为第i个测点第k次周期观测偏离值与第i个测点第1次周期观测偏离值之差。本发明能有效解决以全长基准线为照准基准,而基准线太长时,目标模糊,照准精度差,后视点与测点距离相差太远、望远镜调焦误差影响较大的问题,能有效减小大气折光对观测结果的影响;本发明的方法简单,测量精度高,方便在实际工作中应用。
搜索关键词: 一种 准线 变形 测量方法
【主权项】:
一种视准线变形测量方法,其特征在于,利用下式计算视准线第i个测点相对于基准线的第k次周期观测偏离值δi(k):<mrow><msub><mi>&delta;</mi><mi>i</mi></msub><mrow><mo>(</mo><mi>k</mi><mo>)</mo></mrow><mo>=</mo><mfrac><mrow><mn>2</mn><mi>i</mi></mrow><mrow><mi>n</mi><mo>+</mo><mn>1</mn></mrow></mfrac><mo>&CenterDot;</mo><munderover><mo>&Sigma;</mo><mrow><mi>j</mi><mo>=</mo><mn>1</mn></mrow><mi>n</mi></munderover><mrow><mo>(</mo><mi>n</mi><mo>-</mo><mi>j</mi><mo>+</mo><mn>1</mn><mo>)</mo></mrow><msub><mi>&Delta;</mi><mi>j</mi></msub><mrow><mo>(</mo><mi>k</mi><mo>)</mo></mrow><mo>-</mo><munderover><mo>&Sigma;</mo><mrow><mi>r</mi><mo>=</mo><mn>1</mn></mrow><mrow><mi>i</mi><mo>-</mo><mn>1</mn></mrow></munderover><mn>2</mn><mrow><mo>(</mo><mi>i</mi><mo>-</mo><mi>r</mi><mo>)</mo></mrow><msub><mi>&Delta;</mi><mi>r</mi></msub><mrow><mo>(</mo><mi>k</mi><mo>)</mo></mrow><mo>;</mo></mrow>其中,n为视准线的测点个数;Δj(k)为第j个测点相对于以第j‑1个测点和第j+1个测点的连线为基准线的第k次周期观测局部偏离值;Δr(k)为第r个测点相对于以第r‑1个测点和第r+1个测点的连线为基准线的第k次周期观测局部偏离值;r=2,3,…,n+1;n+1为视准线的端点;则所述第i个测点的变形值为第i个测点第k次周期观测偏离值与第i‑1个测点第1次周期观测偏离值之差。
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