[发明专利]多径衰落信道测试装置在审

专利信息
申请号: 201510956319.6 申请日: 2015-12-21
公开(公告)号: CN105553586A 公开(公告)日: 2016-05-04
发明(设计)人: 陈应兵;周生奎;包思云 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
主分类号: H04B17/391 分类号: H04B17/391
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 266555 山东省*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开了一种多径衰落信道测试装置,其包括,4个采集通道,任意所述的采集通道连接有ADC采集单元;多路数字信号处理单元,耦接所有ADC采集单元;数据传输单元,通讯所述多路数字信号处理单元与上位机;上位机,由所述多路数字信号处理单元传输的被测信道,取得衰落谱型、或被测信道的信道系数或被测信道的损耗功率。本采用4个ADC采集单元和FPGA数字信号处理单元实时地对被测信道进行计算,或直接通过DSP数字信号处理单元对基带信号进行处理,适用于多路信号的测试。满足多种信道衰落类型及多普勒频谱要求,具有操作简单,成本低等优点。
搜索关键词: 衰落 信道 测试 装置
【主权项】:
一种多径衰落信道测试装置,其特征在于包括,4个采集通道,任意所述的采集通道连接有ADC采集单元;多路数字信号处理单元,耦接所有ADC采集单元;数据传输单元,通讯所述多路数字信号处理单元与上位机;上位机,由所述多路数字信号处理单元传输的被测信道,取得衰落谱型、或被测信道的信道系数或被测信道的损耗功率。
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