[发明专利]一种用于光学均匀性测试的柔性支撑装置在审
| 申请号： | 201510962286.6 | 申请日： | 2015-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN105572043A | 公开（公告）日： | 2016-05-11 |
| 发明（设计）人： | 张文龙;苗亮;刘钰;王辉;周烽;郭本银;马冬梅;金春水 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/45 |
| 代理公司： | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人： | 南小平 |
| 地址： | 130033 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 一种用于光学均匀性测试的柔性支撑装置属于光学材料光学均匀性测试技术领域，目的在于解决现有技术存在的通用夹具引入较大应力的问题。本发明的一种用于光学均匀性测试的柔性支撑装置包括片体底板、柔性片体、片体顶板和限位块；多个柔性片体一端均匀设置在圆环形的片体底板和圆环形的片体顶板之间，另一端位于片体底板和片体顶板的中空区域，多个限位块一端的下表面均匀固定在片体顶板上端面上，限位块的另一端的侧壁和被测试样品外圆柱面接触。使用本发明时，被测试样品的受力状态与未来实际应用中的多点粘胶支撑方式受力状态一致，减小了由于光学材料受力状态不一致导致的光学均匀性测试误差，提高了光学均匀性测试的准确性、测试数据有效性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 光学 均匀 测试 柔性 支撑 装置 | ||
【主权项】：
一种用于光学均匀性测试的柔性支撑装置，其特征在于，包括片体底板(1)、柔性片体(2)、片体顶板(3)和限位块(4)；多个所述柔性片体(2)一端均匀设置在圆环形的片体底板(1)和圆环形的片体顶板(3)之间，另一端位于片体底板(1)和片体顶板(3)的中空区域，多个所述限位块(4)一端的下表面均匀固定在所述片体顶板(3)上端面上，所述限位块(4)的另一端的侧壁和被测试样品(5)外圆柱面接触。
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