[发明专利]一种薄膜测厚仪

摘要

本发明提供一种薄膜测厚仪，工作台的正上方设有发射装置，升降装置的两侧固定连接夹紧块，升降装置的下端连接第一中心线监测器及发射探头，工作台的内部设有驱动滑轨，滑块的上端设有接收器及第二中心线监测器，滑块上设有定位调节器，定位调节器上设有卡槽及固定孔，固定装置的底部一侧设有角度调节块，另一侧设有固定压块，工作台的外侧设有报警装置。本发明的有益效果是在发射探头与接收器上均设置的中心线监测器，当不处于相同中心线时会将信号发送到报警装置中，提醒实验人员调整发射探头与接收器的中心线位置，同时在工作台的一端设置的固定装置可以固定住薄膜，平整的固定薄膜位置，便于精确的测量薄膜的厚度。

主权项

一种薄膜测厚仪，包括工作台(1)、转动杆(2)，所述转动杆(2)设置在工作台(1)的一端，其特征在于：所述工作台(1)的正上方设有发射装置(3)，所述发射装置(3)包括升降装置(4)、微调器(5)、第一中心线监测器(6)、发射探头(7)，所述升降装置(4)的上端连接微调器(5)，所述升降装置(4)的两侧固定连接夹紧块(8)，所述升降装置(4)的下端连接第一中心线监测器(6)及发射探头(7)，所述工作台(1)的内部设有驱动滑轨(9)，所述驱动滑轨(9)上设有相配合的滑块(10)，所述滑块(10)的上端设有接收器(11)及第二中心线监测器(12)，所述滑块(10)上设有定位调节器(13)，所述定位调节器(13)上设有卡槽(1301)及固定孔(1302)，所述驱动滑轨(9)与工作台(1)的内壁接触的一侧设有匀速控制器(14)，所述工作台(1)与转动杆(2)相对的一端设有固定装置(15)，所述固定装置(15)的底部一侧设有角度调节块(16)，另一侧设有固定压块(17)，所述固定装置(15)的前端设有薄膜感应器(18)，所述工作台(1)的外侧设有报警装置(19)。