[发明专利]编程器测试装置及测试方法有效

专利信息
申请号: 201510967323.2 申请日: 2015-12-18
公开(公告)号: CN105510744B 公开(公告)日: 2019-11-19
发明(设计)人: 王希清;潘子升;魏建中 申请(专利权)人: 杭州士兰微电子股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 11449 北京成创同维知识产权代理有限公司 代理人: 刘锋<国际申请>=<国际公布>=<进入国
地址: 310012*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 公开了一种编程器测试装置包括:夹具,用于固定待测编程器;测试卡模块,用于采集待测编程器的测试数据;串口通讯模块,用于向待测编程器发送文件信号流;主处理器,分别与信号源模块、串口通讯模块、测试卡模块连接,用于通过测试卡模块获取待测编程器的测试数据。本发明还提供了一种编程器测试方法,可以单独执行某一检测指令,也可按顺序执行多个检测指令,提高检测效率,减少成本。
搜索关键词: 编程 测试 装置 方法
【主权项】:
1.一种编程器测试装置,包括:/n夹具,用于固定待测编程器;/n测试卡模块,用于采集待测编程器的测试数据;/n信号源模块,用于向待测编程器发送指令信号流;/n串口通讯模块,用于向待测编程器发送文件信号流;/n主处理器,分别与信号源模块、串口通讯模块、测试卡模块连接,用于通过信号源模块向待测编程器发送指令信号流和/或通过串口通讯模块向待测编程器发送文件信号流,以及通过测试卡模块获取待测编程器的测试数据;/n其中,所述主处理器用于在接收到存储器检测指令时通过串口通讯模块向待测编程器发送文件信号流;/n所述主处理器用于接收所述待测编程器根据所述文件信号流输出的存储器校验数据,并根据所述存储器校验数据判断存储器是否异常。/n
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