[发明专利]一种与非型闪存中坏列的处理方法、装置及与非型闪存有效
| 申请号： | 201511030051.X | 申请日： | 2015-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN105679373B | 公开（公告）日： | 2019-01-08 |
| 发明（设计）人： | 刘会娟 | 申请（专利权）人： | 北京兆易创新科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/24 | 分类号： | G11C29/24 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 胡彬;邓猛烈 |
| 地址： | 100083 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明实施例公开一种与非型闪存中坏列的处理方法、装置及与非型闪存，该方法包括：扫描所述与非型闪存的存储区块，并扫描出的所述存储区块中的坏列；通过所述存储区块中的冗余列替换所述坏列并将所述坏列的地址记录在与该冗余列对应的标记锁存器中，记录所述坏列个数；扫描写入数据后的所述存储区块并得出所述存储区块的错误信息个数，根据所述错误信息个数和所述坏列个数得出所述存储区块的错误数据个数。本发明实施例仅需要至少一个标记锁存器记录坏列信息，并且标记锁存器的位置可以自由设计，与现有技术相比，不再需要将标记锁存器设置成横跨整个存储阵列的形状，由此可大大减少标记锁存器占用的面积，也降低与非型闪存排版布局的难度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 闪存 中坏列 处理 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种与非型闪存中坏列的处理方法，其特征在于，包括：扫描所述与非型闪存的存储区块，并扫描出所述存储区块中的坏列；通过所述存储区块中的冗余列替换所述坏列并将所述坏列的地址记录在与该冗余列对应的标记锁存器中，记录所述坏列个数；扫描写入数据后的所述存储区块并得出所述存储区块的错误信息个数，根据所述错误信息个数和所述坏列个数得出所述存储区块的错误数据个数；其中，所述标记锁存器与所述冗余列一一对应设置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京兆易创新科技股份有限公司，未经北京兆易创新科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201511030051.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种模拟岩石颗粒冲击岩屑床的装置
- 下一篇：一种室内环境检测与空气清洁装置
