[实用新型]TEM样品支架有效
申请号: | 201520019588.5 | 申请日: | 2015-01-12 |
公开(公告)号: | CN204470252U | 公开(公告)日: | 2015-07-15 |
发明(设计)人: | 陈卉 | 申请(专利权)人: | 武汉新芯集成电路制造有限公司 |
主分类号: | B08B13/00 | 分类号: | B08B13/00;B25H1/00;G01N1/34 |
代理公司: | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人: | 吴俊 |
地址: | 430205 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本实用新型涉及TEM样品制备领域,具体涉及一种新型的去除样品表面聚合物的TEM样品支架,包括:基座,所述基座中设置有至少一个贯穿正反两面的孔洞;圆环,所述圆环呈筒状并设置在所述孔洞内,且该圆环的一端还设置有向内径中心延伸的载物台;托台,固定放置在所述载物台上,用于放置样品。本实用新型结构简单,能大大提高TEM样品在RIE机台中清理样品的使用频率,进而有利于提升生产效率。 | ||
搜索关键词: | tem 样品 支架 | ||
【主权项】:
一种样品支架,其特征在于,包括:基座,所述基座中设置有至少一个贯穿正反两面的孔洞;圆环,所述圆环呈筒状并设置在所述孔洞内,且该圆环的一端还设置有向内径中心延伸的载物台;托台,固定放置在所述载物台上,用于放置样品。
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