[实用新型]关键尺寸测量标记有效

专利信息
申请号: 201520033712.3 申请日: 2015-01-17
公开(公告)号: CN204391103U 公开(公告)日: 2015-06-10
发明(设计)人: 邢滨;张士健 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
主分类号: H01L23/544 分类号: H01L23/544
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 屈蘅;李时云
地址: 100176 北京市大兴区*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型揭示了一种关键尺寸测量标记。所述关键尺寸测量标记包括两个第一标记和两个第二标记,所述第一标记和第二标记交替分布于一曝光单元的四个顶角处,所述第一标记包括第一子标记和第二子标记,所述第二标记包括第三子标记和第四子标记,所述第一子标记、第二子标记、第三子标记和第四子标记均呈直角折线状,并且,所述第一子标记的弯折处具有缺口。由于缺口的存在,会产生对比度,那么与程式中已由图形的对齐就容易且精确,避免了寻址失败的情况。
搜索关键词: 关键 尺寸 测量 标记
【主权项】:
一种关键尺寸测量标记,其特征在于,包括两个第一标记和两个第二标记,所述第一标记和第二标记交替分布于一曝光单元的四个顶角处,所述第一标记包括第一子标记和第二子标记,所述第二标记包括第三子标记和第四子标记,所述第一子标记、第二子标记、第三子标记和第四子标记均呈直角折线状,并且,所述第一子标记的弯折处具有缺口。
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