[实用新型]老化测试转换板有效
| 申请号： | 201520239542.4 | 申请日： | 2015-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN204536378U | 公开（公告）日： | 2015-08-05 |
| 发明（设计）人： | 辛军启 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人： | 余明伟 |
| 地址： | 100176 北京市大兴*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种老化测试转换板，包括芯片插接区域、老化板插接区域、电源连接区域、电源/芯片转接区域及拨码开关。通过特定的信号布局和连接方式，在有限的区域内可以实现与老化板最大灵活性的互连；通过增加拨码开关，可以实现待检测芯片的管脚与老化测试机台通道的灵活连接，使得每个待检测芯片的管脚均可以连接任意所需的信号；所述老化测试转换板可以适用于所有的产品，相较于现有的老化测试转换板有效地避免了人力资源的浪费；通过增加发光二极管可以直观简单地检测本实用新型的老化测试转换板与老化板之间的连接状况。 | ||
| 搜索关键词： | 老化 测试 转换 | ||
【主权项】：
一种老化测试转换板，其特征在于，所述老化测试转换板包括：芯片插接区域，具有多个芯片插接孔，适于插接待检测芯片；老化板插接区域，具有多个老化板插接点，适于插接老化板；电源连接区域，具有多个电源连接点，适于连接电源或接地；电源/芯片转接区域，具有多个转接点，适于将电源信号转接于待检测芯片；拨码开关，适于通过开关控制所述待检测芯片与老化板的灵活连接；其中，所述芯片插接区域与所述老化板插接区域通过所述拨码开关电性连接；所述芯片插接区域、所述老化板插接区域、所述电源连接区域及所述电源/芯片转接区域电性连接。
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