[实用新型]硅锭自动精检生产线有效

专利信息
申请号: 201520264158.X 申请日: 2015-04-28
公开(公告)号: CN204613124U 公开(公告)日: 2015-09-02
发明(设计)人: 张刚;乔永立;张庆龙;奚云飞 申请(专利权)人: 华中科技大学无锡研究院
主分类号: G01N21/89 分类号: G01N21/89
代理公司: 无锡大扬专利事务所(普通合伙) 32248 代理人: 方为强
地址: 214174 江苏省无锡市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种硅锭自动精检生产线,依次包括上料区、杂质检测工作区、外观检测工作区和下料区,上料区设置有用于取放硅锭的上料机器人,杂质检测工作区设置有传输带、直角坐标机器人和红外检测装置,外观检测工作区设置有外观检测装置,下料区设置有下料机器人,直角坐标机器人抓取传输带上的硅锭送至红外检测装置处,红外检测装置用于检测硅锭的内部杂质,外观检测装置用于检测硅锭的外观缺陷。本实用新型能够在硅锭的检测过程中实现硅锭的上下料、搬运传送全自动处理,解放了劳动力,提高了生产效率。同时还减少了人工搬运过程中对硅锭的磕碰、划伤等二次伤害,降低了后续的检测和加工的工作量,减少了硅锭原料加工的浪费。
搜索关键词: 自动 生产线
【主权项】:
一种硅锭自动精检生产线,依次包括上料区、杂质检测工作区、外观检测工作区和下料区,其特征在于:上料区设置有用于取放硅锭的上料机器人(4),杂质检测工作区设置有传输带、直角坐标机器人(5)和红外检测装置(6),外观检测工作区设置有外观检测装置(7),下料区设置有下料机器人(8),直角坐标机器人(5)抓取传输带上的硅锭送至红外检测装置(6)处,红外检测装置(6)用于检测硅锭的内部杂质,外观检测装置(7)用于检测硅锭的外观缺陷。
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