[实用新型]一种高速内置闪存的测试板有效
| 申请号： | 201520371267.1 | 申请日： | 2015-06-02 |
| 公开（公告）号： | CN204884573U | 公开（公告）日： | 2015-12-16 |
| 发明（设计）人： | 孙文涛 | 申请（专利权）人： | 广东利扬芯片测试股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/48 | 分类号： | G11C29/48 |
| 代理公司： | 东莞市华南专利商标事务所有限公司 44215 | 代理人： | 刘克宽 |
| 地址： | 523000 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及高速内存测试技术领域，特别涉及一种高速内置闪存的测试板，该测试板包括用于连接上位测试机的测试插槽，所述插槽中具有两排平行的排针，其中一排排针是测试通道排针，所述测试通道排针的测试针脚一端连接上位测试机，另一端连接到测试板上的测试电路，另一排排针是抗干扰排针，所述抗干扰排针的抗干扰针脚的底端接电源地，所述抗干扰排针接收测试通道排针产生的电磁波并传导至电源地，因此抗干扰排针能够有效接收测试通道排针产生的电磁波并传导至电源地，避免了测试通道排针不同针脚之间的信号干扰，提高信号的保真程度的高速内置闪存的测试板。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高速 内置 闪存 测试 | ||
【主权项】：
一种高速内置闪存的测试板，其特征在于：包括用于连接上位测试机的测试插槽，所述插槽中具有两排平行的排针，其中一排排针是测试通道排针，所述测试通道排针的测试针脚一端连接上位测试机，另一端连接到测试板上的测试电路，另一排排针是抗干扰排针，所述抗干扰排针的抗干扰针脚的底端接电源地，所述抗干扰排针接收测试通道排针产生的电磁波并传导至电源地。
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