[实用新型]内嵌式自容触控阵列、基板及测试治具有效
申请号: | 201520386125.2 | 申请日: | 2015-06-05 |
公开(公告)号: | CN204667365U | 公开(公告)日: | 2015-09-23 |
发明(设计)人: | 金松林;卢峰;丁洪 | 申请(专利权)人: | 上海天马微电子有限公司;天马微电子股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041;G09F9/30;G02F1/1333 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201201 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本实用新型提供了一种内嵌式自容触控阵列,包括:多个触控电极,呈阵列排布且彼此绝缘;多条触控电极线,每条触控电极线与一个触控电极电连接且与其他触控电极绝缘;多个第一测试端,每一第一测试端与一条触控电极线的一端电连接;多个第二测试端,每一第二测试端与一条触控电极线的另一端电连接。本实用新型还提供一种基板,包括一透明衬底和本实用新型提供的内嵌式自容触控阵列。本实用新型还提供一种测试治具用于测试内嵌式自容触控阵列。本实用新型提供的内嵌式自容触控阵列、基板以及测试治具,可以准确、迅速、灵活地进行电学测试,提高了生产效率、提升了产品的可靠性。 | ||
搜索关键词: | 内嵌式 容触控 阵列 测试 | ||
【主权项】:
一种内嵌式自容触控阵列,包括:多个触控电极,所述触控电极呈阵列排布且彼此绝缘;多条触控电极线,每条所述触控电极线与一个所述触控电极电连接且与其他所述触控电极绝缘;多个第一测试端,每一所述第一测试端与一条所述触控电极线的一端电连接;多个第二测试端,每一所述第二测试端与一条所述触控电极线的另一端电连接。
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