[实用新型]一种双触点测试探针有效
| 申请号： | 201520423705.4 | 申请日： | 2015-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN204789655U | 公开（公告）日： | 2015-11-18 |
| 发明（设计）人： | 崔磊 | 申请（专利权）人： | 上海和辉光电有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 上海申浩律师事务所 31280 | 代理人： | 乐卫国 |
| 地址： | 201506 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种双触点测试探针，包括本体，本体上设置有一主针脚，在主针脚旁边设置有一辅助针脚，辅助针脚的高度小于主针脚。本实用新型所述的双触点测试探针，包含主针脚和辅助针脚，测试时，如果主针脚接触存在问题，通过按压时的压力，辅助针脚可以和被测产品的触点接触在一起，起到辅助接触功能，提高接触成功率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 触点 测试 探针 | ||
【主权项】：
一种双触点测试探针，包括本体，本体上设置有一主针脚，其特征是，在主针脚旁边设置有一辅助针脚，辅助针脚的高度小于主针脚。
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