[实用新型]晶元片盒测量治具及装置有效
| 申请号： | 201520423923.8 | 申请日： | 2015-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN204757969U | 公开（公告）日： | 2015-11-11 |
| 发明（设计）人： | 尚荣耀;黄怡和 | 申请（专利权）人： | 厦门市三安集成电路有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/32 | 分类号： | G01B21/32 |
| 代理公司： | 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 | 代理人： | 连耀忠 |
| 地址： | 361000 福建省*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了晶元片盒测量治具，其底板相对的两侧平行设置导向条，且两导向条的距离与晶元片盒的宽度相匹配，对接件连接于底板上并包括若干于两导向条之间的上方平行排列的插板，插板与晶元片盒的插槽一一对应匹配。本实用新型还公开了晶元片盒测量装置，晶元片盒置于测量治具底板上两导向条之间，推力计连接于晶元片盒上并于晶元片盒推动至插槽与插板对插的过程中显示推力数值，通过对插前后推力值大小的比值即可判断晶元片盒的形变程度，简单有效快捷，对实际生产有指导意义。 | ||
| 搜索关键词： | 晶元片盒 测量 装置 | ||
【主权项】：
晶元片盒测量治具，其特征在于：包括底板和对接件，底板相对的两侧平行设置有导向条，且两导向条之间的距离与待测晶元片盒的宽度相匹配；对接件包括若干于底板两导向条之间的上方平行排列的插板，所述插板与待测晶元片盒的插槽一一对应匹配以实现对接件与待测晶元片盒对插。
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