[实用新型]高空穴注入效率的LED外延结构有效

专利信息
申请号: 201520657363.2 申请日: 2015-08-28
公开(公告)号: CN204966527U 公开(公告)日: 2016-01-13
发明(设计)人: 郑建钦;田宇;吴真龙;曾颀尧;赖志豪;林政志 申请(专利权)人: 南通同方半导体有限公司;同方股份有限公司
主分类号: H01L33/14 分类号: H01L33/14;H01L33/06;H01L33/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100083 北京市*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 高空穴注入效率的LED外延结构,涉及发光二极管外延技术领域。本实用新型从下至上依次包括衬底、GaN缓冲层、未掺杂GaN层、N型GaN层、多量子阱、电子阻挡层、P型GaN层和P型接触层。其中多量子阱由InGaN层和GaN层构成。其结构特点是,所述电子阻挡层从下至上依次由p型AlxGa1-xN层、AlN层和p型InyGa1-yN层构成,其中0<x≤0.3、0<y≤0.2。所述电子阻挡层包括8-12个生长周期,生长压力为100-200Torr,在氮气环境中生长。本实用新型采用由p型AlxGa1-xN层、AlN层和p型InyGa1-yN超晶格层构成电子阻挡层,通过应变和减小合金散射来提高空穴浓度和迁移率,提升发光二级管的发光效率。
搜索关键词: 空穴 注入 效率 led 外延 结构
【主权项】:
高空穴注入效率的LED外延结构,从下至上依次包括衬底(1)、GaN缓冲层(2)、未掺杂GaN层(3)、N型GaN层(4)、多量子阱(5)、电子阻挡层(6)、P型GaN层(7)和P型接触层(8),其中多量子阱(5)由InGaN层(13)和GaN层(12)构成,其特征在于:所述电子阻挡层(6)从下至上依次由p型AlxGa1‑xN层(9)、AlN层(10)和p型InyGa1‑yN层(11)构成,其中0<x≤0.3、0<y≤0.2,所述电子阻挡层(6)包括8‑12个生长周期,生长压力为100‑200Torr,在氮气环境中生长。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南通同方半导体有限公司;同方股份有限公司,未经南通同方半导体有限公司;同方股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201520657363.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top