[实用新型]一种用于存储设备的温控式测试系统有效

专利信息
申请号: 201520674706.6 申请日: 2015-09-01
公开(公告)号: CN204904845U 公开(公告)日: 2015-12-23
发明(设计)人: 车嵘;骆建军;章浙源 申请(专利权)人: 杭州华澜微电子股份有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 北京中政联科专利代理事务所(普通合伙) 11489 代理人: 吴建锋
地址: 311200 浙江省杭州*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 实用新型涉及一种用于存储设备的温控式测试系统,包括温控试验腔体、置于所述温控试验腔体内的至少一块测试控制单元、用于在所述温控试验腔体内产生高温或者低温的制冷/制热装置、与所述温控试验腔体相邻设置的测试腔体、以及置于所述测试腔体用于控制所述制冷/制热装置和所述测试控制单元的测试系统。采用本实用新型的技术方案,通过将存储设备测试接口固定在测试控制单元上,并在存储设备测试接口的背面通过线缆引出存储数据接口使其直接插接在测试主机的主板上,从而存储设备的数据信号无需经过测试板中转,使存储数据信号的传输更为稳定,大大提高了测试的可靠性和标准性。
搜索关键词: 一种 用于 存储 设备 温控 测试 系统
【主权项】:
一种用于存储设备的温控式测试系统,其特征在于,包括温控试验腔体、置于所述温控试验腔体内的至少一块测试控制单元、用于在所述温控试验腔体内产生高温或者低温的制冷/制热装置、与所述温控试验腔体相邻设置的测试腔体、以及置于所述测试腔体内用于控制所述制冷/制热装置和所述测试控制单元的测试系统,其中,所述测试系统包括至少一台测试主机,该测试主机主板上设有多个第一存储数据接口;所述测试控制单元包括至少一个用于与被测试存储设备相连接的存储设备测试接口和控制线路板,所述测试控制单元与所述测试主机相连接,用于接收所述测试主机的控制信号、数据信号和电源信号;所述存储设备测试接口固定在所述测试控制单元上,其正面设有与被测试存储设备相卡合的标准接口,其背面直接设有与所述标准接口相连接的信号延长线,所述信号延长线另一端用于接收数据信号的部分设有第二存储数据接口,所述第一存储数据接口和所述第二存储数据接口之间对应连接使所述存储设备测试接口与所述测试主机直接连接;所述信号延长线另一端中用于接收电源信号的部分设有存储电源接口,所述存储电源接口与所述控制线路板相连接并受控于所述控制线路板。
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