[实用新型]检测设备有效
申请号: | 201520755754.8 | 申请日: | 2015-09-25 |
公开(公告)号: | CN205080069U | 公开(公告)日: | 2016-03-09 |
发明(设计)人: | 许轩兢 | 申请(专利权)人: | 香港商微觉视检测技术股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/89 | 分类号: | G01N21/89 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 李静;马强 |
地址: | 中国*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种检测设备,用以检测基材,该检测设备包括光源装置、光接收装置及控制装置。光源装置包含发光模组及透光片。发光模组具有发光区。透光片具有入光面与出光面。出光面形成有多个微结构。当基材的未有缺陷的区块经过检测区域时,发光模组的光线沿预设路径并经过基材而行进,以使控制装置取得的光线强度为第一强度。当基材的形成有至少一缺陷的区块经过检测区域时,沿经基材缺陷的光线产生偏折而脱离预设路径并有至少部分光线行进至光接收装置的接收区,以使控制装置取得的光线强度为高于第一强度的第二强度,藉以得知缺陷位于基材上的位置。本实用新型的检测设备能进行基材缺陷有无及位置判断,提升了基材的缺陷检测速度及准确性。 | ||
搜索关键词: | 检测 设备 | ||
【主权项】:
一种检测设备,用以检测一基材,其特征在于,所述检测设备包括:一光源装置,所述光源装置包含:一发光模组,所述发光模组具有用以发出光线的一发光区;及一透光片,所述透光片具有位于相对侧的一入光面与一出光面,所述透光片的所述出光面上形成有多个微结构,并且多个所述微结构用以导引所述发光模组所发出的光线沿一预设路径行进,并且经由多个所述微结构导引的光线路径区域定义为一检测区域;一光接收装置,所述光接收装置与所述光源装置彼此相对应地设置,并且所述光接收装置设有一接收区,而所述接收区与所述透光片的所述出光面彼此相向,并且所述接收区设置于所述预设路径以外的位置;以及一控制装置,所述控制装置电性连接于所述光接收装置,用以取得所述光接收装置所接收的光线强度;其中,当所述基材的未形成有缺陷的区块经过所述检测区域时,所述发光模组所发出的光线沿所述预设路径并经过所述基材而行进,以使所述控制装置取得的光线强度为一第一强度;其中,当所述基材的形成有至少一缺陷的区块经过所述检测区域时,所述发光模组所发出的光线沿所述预设路径并经过所述基材而行进,于沿经所述基材的缺陷的光线产生偏折而脱离所述预设路径,并有至少部分光线行进至所述光接收装置的所述接收区,以使所述控制装置取得的光线强度为高于所述第一强度的一第二强度,藉以得知所述缺陷位于所述基材上的位置。
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