[实用新型]测试装置

摘要

一种应用于测试设备的测试装置，包含具有上贯穿开口的上导引板，具有下贯穿开口的下导引板，以及弹性接触结构。弹性接触结构设置于上导引板与下导引板之间，弹性接触结构分别单独穿过上贯穿开口与下贯穿开口，弹性接触结构的接触结构尖段与接触结构尾段之间具有弹性接触结构偏移量。其中d₁为目标弹性接触结构偏移量，d₂为上导引板与下导引板之间的测试装置偏移量，上述的目标弹性接触结构偏移量与上述的测试装置偏移量之间的关系符合以下关系式：d₂＝d₁±50～200微米。通过上述设计，有效使得测试装置中的多根弹性接触结构大致上朝同一方向摆动。

主权项

一种应用于测试设备的测试装置，其特征在于，所述测试装置包含：一上导引板，具有多个上贯穿开口；一下导引板，位于所述上导引板的一侧，具有多个下贯穿开口，所述上导引板与所述下导引板之间具有一测试装置偏移量d₂；以及多个弹性接触结构，设置于所述上导引板与所述下导引板之间，每一所述弹性接触结构各依序具有一接触结构尖段、一接触结构身段与一接触结构尾段，每一所述弹性接触结构分别单独穿过每一所述上贯穿开口与每一所述下贯穿开口，每一所述弹性接触结构的所述接触结构尖段与所述接触结构尾段之间分别具有一弹性接触结构偏移量，每一所述弹性接触结构具有一目标弹性接触结构偏移量d₁，所述目标弹性接触结构偏移量d₁与所述测试装置偏移量d₂之间的关系符合以下关系式：d₂＝d₁±50～200微米，其中，d₁和d₂的单位均为微米。