[发明专利]对准器结构及对准方法有效

专利信息
申请号: 201580010595.1 申请日: 2015-02-27
公开(公告)号: CN106062990B 公开(公告)日: 2018-01-30
发明(设计)人: 曹生贤 申请(专利权)人: VNI斯陆深株式会社
主分类号: H01L51/56 分类号: H01L51/56
代理公司: 北京鼎承知识产权代理有限公司11551 代理人: 李伟波,管莹
地址: 韩国大*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的目的在于提供一种对准器结构,以相对较大的移动尺度结束基板(S)及掩模(M)间的第1次相对移动后,以相对较小的移动尺度执行基板(S)及掩模(M)间的第2次相对移动,从而能够实现迅速而精密的基板及掩模的对齐。本发明的对准器结构作为在基板(S)表面执行薄膜沉积工序之前对准掩模(M)及基板(S)的对准器结构,包括第1次对准部(100),其借助于基板(S)及掩模(M)的第1相对移动,依次地第1次对准基板(S)及掩模(M);第2次对准部(200),其在借助于所述第1次对准部(100)的第1次对准后,借助于基板(S)及掩模(M)的第2相对移动,依次地第2次对准基板(S)及掩模(M);所述第2相对移动的移动尺度小于所述第1相对移动的移动尺度,从而以相对较大的移动尺度结束基板(S)及掩模(M)间的第1次相对移动后,以相对较小的移动尺度执行基板(S)及掩模(M)间的第2次相对移动,从而能够实现迅速而精密的基板及掩模的对齐。
搜索关键词: 对准 结构 方法
【主权项】:
一种基板对准器结构,作为在基板(S)表面执行薄膜沉积工序之前对准掩模(M)及基板(S)的基板对准器结构,其特征在于,包括:第1次对准部(100),其借助于基板(S)及掩模(M)的第1相对移动,依次地第1次对准基板(S)及掩模(M);第2次对准部(200),其借助于压电元件进行线性驱动,在借助于所述第1次对准部(100)的第1次对准后,借助于基板(S)及掩模(M)的第2相对移动,依次地第2次对准基板(S)及掩模(M);所述第1次对准部(100)借助于滚珠螺杆组合、齿条及齿轮组合、皮带及滑轮组合中的某一种而线性驱动;所述第2相对移动的移动尺度小于所述第1相对移动的移动尺度。
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