[发明专利]磁共振成像装置有效
申请号: | 201580011025.4 | 申请日: | 2015-08-06 |
公开(公告)号: | CN107072586B | 公开(公告)日: | 2020-08-18 |
发明(设计)人: | 谷口阳;横泽俊;越智久晃;白猪亨;黑川真次 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立制作所 |
主分类号: | A61B5/055 | 分类号: | A61B5/055 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 范胜杰;王立杰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种技术,在使用同时生成多个参数的计算图像的方法的情况下,也提高计算图像的画质、参数推定精度。因此,本发明使用对各个推定对象的参数最优的分辨率的重构图像,推定该参数的值,得到该参数的值的分布即计算图像。通过调整在摄影时以推定对象的参数中的、最优分辨率最高的推定参数的最优分辨率取得的重构图像的分辨率,而得到最优分辨率的重构图像。或者,在摄影时,只对计算预定的推定对象参数时使用的重构图像,以对该推定对象参数最优的分辨率而取得。 | ||
搜索关键词: | 磁共振 成像 装置 | ||
【主权项】:
一种磁共振成像装置,其特征在于,具备:参数推定部,其使用多个重构图像以及取得该重构图像时所依照的摄影时序的信号函数,来推定依存于被检测体的一个以上的被检测体参数以及依存于装置的一个以上的装置参数中的至少一个推定参数的值,其中,上述多个重构图像是使用多个摄影参数组,依照上述摄影时序进行摄像,分别取得的重构图像,上述信号函数是按照每个上述摄影时序确定上述摄影参数、上述被检测体参数以及上述装置参数与上述重构图像的各像素值之间的关系的函数,上述参数推定部使用对每个上述推定参数最优的分辨率的上述重构图像来推定上述值。
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