[发明专利]数据处理装置、求取各像素的特性的方法以及数据处理的方法及程序有效
申请号: | 201580045810.1 | 申请日: | 2015-07-10 |
公开(公告)号: | CN106796298B | 公开(公告)日: | 2020-01-21 |
发明(设计)人: | 作村拓人;中江保一;辻优司;梶芳功系兆;田口武庆;松下一之 | 申请(专利权)人: | 株式会社理学 |
主分类号: | G01T1/17 | 分类号: | G01T1/17 |
代理公司: | 11021 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 高颖 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种能够省去对校正表格进行重新设定的劳力和时间,使用户能立刻在期望的条件下测定X射线强度数据的数据处理装置、求取各像素的特性的方法、以及数据处理的方法及程序。对由像素检测器测定到的X射线强度数据进行校正的数据处理装置(100)具备:存储特定的检测器的各像素的特性的特性存储部(130);将作为利用特定的检测器进行测定时的条件来输入的测定条件以及表示各像素的特性的值应用于表示各像素处的计数值的近似表达式,使用近似表达式的计算结果来生成针对特定的检测器的校正表格的校正表格生成部(120);和使用所生成的校正表格,对由特定的检测器测定到的X射线强度数据进行校正的校正部(160)。 | ||
搜索关键词: | 数据处理 装置 求取 像素 特性 方法 以及 程序 | ||
【主权项】:
1.一种数据处理装置,对由像素检测器测定到的X射线强度数据进行校正,该数据处理装置的特征在于,具备:/n特性存储部,存储在事先准备时的测定条件下完成的一致扩散后的X射线照射的结果所得到的特定的检测器的各像素的特性;/n校正表格生成部,将作为利用上述特定的检测器进行测定时的期望的测定条件来输入的测定条件以及表示上述各像素的特性的值应用于表示上述各像素处的计数值的近似表达式,使用上述近似表达式的计算结果,生成所输入的上述测定条件下的针对上述特定的检测器的校正表格;和/n校正部,使用所生成的上述校正表格,对由上述特定的检测器测定到的X射线强度数据进行校正,/n上述近似表达式在因子中包含测定时的X射线源的信息,/n上述校正表格生成部通过使上述近似表达式的计算结果拟合所测定到的上述X射线强度数据来生成上述测定条件下的针对上述特定的检测器的校正表格。/n
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