[发明专利]试样保持装置、太阳能电池的制造方法及太阳能电池模块的制造方法有效
申请号: | 201580050720.1 | 申请日: | 2015-09-30 |
公开(公告)号: | CN107078084B | 公开(公告)日: | 2020-07-28 |
发明(设计)人: | 末崎恭;三岛良太 | 申请(专利权)人: | 株式会社钟化 |
主分类号: | H01L21/677 | 分类号: | H01L21/677;H01L31/0224;H01L31/0747 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 刘晓迪 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供一种不会对半导体基板(10)等试样造成损伤的试样保持装置。本实施方式的试样保持装置(1)为伯努利卡盘,由主体部(2)和定位部件(3)构成。定位部件(3)为立体的部件,比试样保持面(5)更向下侧突出的有效部分(M)由内向面(A)、朝向外侧(与试样保持面(5)相反的相反侧)的外向面(B)、将内向面(A)和外向面(B)相连且与试样保持面(5)平行地扩展的向下面(C)、将内向面(A)、外向面(B)及向下面(C)相连的侧面(D)围成。定位部件(3)没有带棱角的部分。 | ||
搜索关键词: | 试样 保持 装置 太阳能电池 制造 方法 模块 | ||
【主权项】:
一种试样保持装置,将具备半导体基板的太阳能电池的半成品设为需保持并抬起的试样,具有与所述试样相对的试样保持面,在所述试样保持面与试样之间流过气体从而产生负压,通过该负压将试样吸引到试样保持面侧,在与试样保持面接近的位置对试样进行保持,其特征在于,具有阻止试样向试样保持面的面方向移动的定位部件,所述定位部件设于所述试样保持面的周部,所述定位部件具有在保持了试样的状态时或在试样偏移时与试样的一部分接触的接触部,其中,如下的部位带有圆弧或为倒角形状:(1)接触部或与接触部平缓地连续的部位的距试样保持面远的一侧的端部;(2)在接触部的背面侧具有外向部,该外向部的前端侧的端部。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造