[发明专利]用于测量离型膜的剥离稳定性的方法和离型膜层合体有效
申请号: | 201580058061.6 | 申请日: | 2015-10-26 |
公开(公告)号: | CN107109149B | 公开(公告)日: | 2021-01-26 |
发明(设计)人: | 朴埈莹;金章淳 | 申请(专利权)人: | 株式会社LG化学 |
主分类号: | B32B27/28 | 分类号: | B32B27/28;B32B27/36;B32B27/08;B32B7/12;C09J7/40;G01N19/04 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 郑毅;赵丹 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供了用于测量离型膜的剥离稳定性的方法,所述方法包括以下步骤:制备包括粘合层和附接在粘合层的两侧的轻剥离离型膜和中剥离离型膜的层合体;通过在0.3至3.0m/分钟的剥离速度下测量轻剥离离型膜与粘合层的离型强度获得轻剥离、低速离型强度;通过在0.3至3.0m/分钟的剥离速度下测量中剥离离型膜与粘合层的离型强度获得中剥离、低速离型强度;通过在10至30m/分钟的剥离速度下测量轻剥离离型膜与粘合层的离型强度获得轻剥离、高速离型强度;通过在10至30m/分钟的剥离速度下测量中剥离离型膜与粘合层的离型强度获得中剥离、高速离型强度;以及在通式1和2的基础上测量高速离型强度平衡和低速离型强度平衡。 | ||
搜索关键词: | 用于 测量 离型膜 剥离 稳定性 方法 离型膜层 合体 | ||
【主权项】:
暂无信息
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