[发明专利]导出纳米孔阵列的测量结果的方法以及测序芯片有效
| 申请号： | 201580059976.9 | 申请日： | 2015-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN107077539B | 公开（公告）日： | 2021-11-09 |
| 发明（设计）人： | R.J.A.陈;H.田;S.弗南德斯-戈梅斯 | 申请（专利权）人： | 吉尼亚科技公司 |
| 主分类号： | C12Q1/6869 | 分类号： | C12Q1/6869;C12M1/34;C12M1/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 周学斌;张涛 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开了一种导出基于纳米孔的测序芯片上的纳米孔传感器的测量结果的方法。测量与纳米孔传感器相关联的电特性。处理与纳米孔传感器相关联的电特性。确定用于所述电特性和一个或多个先前的电特性的概要。导出用于所述电特性和一个或多个先前的电特性的概要。确定概要包括确定所述电特性和一个或多个先前的电特性的至少一部分对应于纳米孔传感器处的碱基调用事件。概要表示所述电特性和所述一个或多个先前电特性的所述至少一部分。 | ||
| 搜索关键词： | 导出 纳米 阵列 测量 结果 方法 以及 芯片 | ||
【主权项】：
一种导出基于纳米孔的测序芯片上的纳米孔传感器的测量结果的方法，包括：测量与所述纳米孔传感器相关联的电特性；处理与所述纳米孔传感器相关联的电特性；确定用于所述电特性和一个或多个先前的电特性的概要；以及导出用于所述电特性和一个或多个先前的电特性的概要。
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