[发明专利]在封装层中包括硅桥接的集成器件封装有效

专利信息
申请号: 201580060406.1 申请日: 2015-11-05
公开(公告)号: CN107078101B 公开(公告)日: 2021-01-22
发明(设计)人: J·S·李;H·B·蔚;D·W·金;S·顾 申请(专利权)人: 高通股份有限公司
主分类号: H01L23/00 分类号: H01L23/00;H01L23/538;H01L21/56
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 钱孟清;李小芳
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一些新颖特征涉及一种包括封装部分和重分布部分的集成器件封装。封装部分包括第一管芯、耦合至第一管芯的第一组通孔、第二管芯、耦合至第二管芯的第二组通孔、桥接、以及封装层。该桥接被配置成在第一管芯与第二管芯之间提供电路径。该桥接通过第一组通孔被耦合至第一管芯。该桥接通过第二组通孔被进一步耦合至第二管芯。该封装层至少部分地封装第一管芯、第二管芯、该桥接、第一组通孔、以及第二组通孔。重分布部分被耦合至封装部分。重分布部分包括一组重分布互连以及至少一个介电层。
搜索关键词: 封装 包括 硅桥接 集成 器件
【主权项】:
一种集成器件封装,包括:封装部分,包括:第一管芯;耦合到所述第一管芯的第一组通孔;第二管芯;耦合到所述第二管芯的第二组通孔;桥接,所述桥接被配置成在所述第一管芯与所述第二管芯之间提供电路径,所述桥接通过所述第一组通孔被耦合到所述第一管芯,所述桥接通过所述第二组通孔被进一步耦合到所述第二管芯;封装层,所述封装层至少部分地封装所述第一管芯、所述第二管芯、所述桥接、所述第一组通孔、以及所述第二组通孔;以及重分布部分,所述重分布部分耦合到所述封装部分,所述重分布部分包括:一组重分布互连;以及至少一个介电层。
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