[发明专利]接触式位置测定器及采用该位置测定器的测定方法有效
申请号: | 201580068498.8 | 申请日: | 2015-12-01 |
公开(公告)号: | CN107003105B | 公开(公告)日: | 2020-02-18 |
发明(设计)人: | 佐藤康児 | 申请(专利权)人: | 德马吉森精机株式会社 |
主分类号: | G01B5/12 | 分类号: | G01B5/12;B23Q17/20 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 胡曼 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供一种不会导致成本增加及操作性变差,能提高倒角孔的测定精度的接触式位置测定器。接触式位置测定器(7)包括:轴孔径测定件(12),使该轴孔径测定件(12)在径向上移动并与沿轴向延伸的轴孔(W1)的内周面接触从而测定轴孔径(D1);以及倒角孔径测定件(13),使该倒角孔径测定件(13)在上述轴向上移动并与倒角孔(W2)的内周面接触从而测定倒角孔径(D2)。 | ||
搜索关键词: | 接触 位置 测定 采用 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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