[发明专利]多孔膜的测量有效
| 申请号： | 201580076082.0 | 申请日： | 2015-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN107430054B | 公开（公告）日： | 2020-04-17 |
| 发明（设计）人： | K·P·汉弗莱;R·P·哈芒德 | 申请（专利权）人： | NDC技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/08 | 分类号： | G01N15/08;G01N21/3563;G01N21/84;G01N21/86;G01N21/3559 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 段登新;钱孟清 |
| 地址： | 英国艾*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供了一种测量移动多孔膜的性质(诸如真实厚度、孔隙度和密度)的原位方法。该方法使用多孔膜在多个IR波长处的透射率的测量，该膜在这些IR波长处基本上没有呈现出吸收。该方法因此提供了与散射相关的测量。从该测量，可直接或间接地确定多孔膜的参数。 | ||
| 搜索关键词： | 多孔 测量 | ||
【主权项】：
一种计算材料的第一样本的第一参数S的方法，所述方法包括：确定第一波长和第二波长，所述材料在所述第一波长和所述第二波长处基本上没有呈现出吸收；测量所述第一样本在所述第一波长处的透射率；测量所述第一样本在所述第二波长处的透射率；使用包括第一回归系数的第一多元回归模型来计算所述第一样本的第一参数，其中，所述第一参数是影响在所述第一波长和所述第二波长处被所述第一样本散射的辐射总量的参数。
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