[发明专利]带电粒子显微镜的观察辅助单元以及使用该观察辅助单元的试料观察方法有效

专利信息
申请号: 201580082455.5 申请日: 2015-08-21
公开(公告)号: CN107924799B 公开(公告)日: 2019-11-05
发明(设计)人: 大南祐介;久田明子 申请(专利权)人: 株式会社日立高新技术
主分类号: H01J37/20 分类号: H01J37/20;H01J37/09;H01J37/28
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 俞丹;张鑫
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 为了以良好的便利性在大气气氛或气体气氛或所希望的压力下观察含水试料,本发明提供一种观察辅助单元,其用于对配置在非真空空间内的试料照射带电粒子束来进行观察,该非真空空间利用隔膜与产生带电粒子束的带电粒子光学镜筒的内部空间隔离。该观察辅助单元包括形成观察试料(6)的观察区域的孔部(501a)、以及将所述试料覆盖的主体部(502b),并在所述试料(6)与所述隔膜之间,直接放置在所述试料上。
搜索关键词: 带电 粒子 显微镜 观察 辅助 单元 以及 使用 方法
【主权项】:
1.一种观察辅助单元,用于对配置在非真空空间内的试料照射带电粒子束来进行观察,该非真空空间利用隔膜与产生带电粒子束的带电粒子光学镜筒的内部空间隔离,其特征在于,包括:孔部,该孔部形成对所述试料进行观察的观察区域;以及主体部,该主体部覆盖所述试料,该观察辅助单元在所述试料与所述隔膜之间,并直接放置在所述试料上,所述孔部小于对所述隔膜进行保持的隔膜保持构件的大小。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社日立高新技术,未经株式会社日立高新技术许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201580082455.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top