[发明专利]多芯片封装链路错误检测有效

专利信息
申请号: 201580082723.3 申请日: 2015-09-26
公开(公告)号: CN107925507B 公开(公告)日: 2021-05-11
发明(设计)人: V.伊耶尔;R.G.布兰肯希普;M.瓦格;吴佐国 申请(专利权)人: 英特尔公司
主分类号: H04L1/00 分类号: H04L1/00;H04L1/20;H04L29/06
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 姜冰;张金金
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在物理链路的多个数据通道上接收第一数据并且在流通道上接收对应于第一数据的流信号,其识别第一数据的类型。在第一数据中识别特定类型的错误检测码的第一实例。在多个数据通道的至少一部分上接收第二数据并且在流通道上接收对应于第二数据的流信号,其识别第二数据的类型。在第二数据中识别特定类型的错误检测码的第二实例。流通道是物理链路的通道中的另一个通道,并且在一些实例中,第二数据的类型与第一数据的类型不同。
搜索关键词: 芯片 封装 错误 检测
【主权项】:
一种设备,包括:物理层逻辑,用于:在物理链路的多个数据通道上接收第一数据;在流通道上接收对应于所述第一数据的流信号,其中所述流通道是所述物理链路的所述通道中的另一个通道,并且对应于所述第一数据的所述流信号用于识别所述第一数据的类型;识别所述第一数据中特定类型的错误检测码的第一实例;在所述多个数据通道的至少一部分上接收第二数据;在所述流通道上接收对应于所述第二数据的流信号,其中对应于所述第二数据的所述流信号用于识别所述第二数据的类型,其中所述第二数据的所述类型与所述第一数据的所述类型不同;以及识别所述第二数据中所述特定类型的所述错误检测码的第二实例。
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