[发明专利]串联型质谱分析装置有效
申请号: | 201580083655.2 | 申请日: | 2015-10-07 |
公开(公告)号: | CN108139357B | 公开(公告)日: | 2020-10-27 |
发明(设计)人: | 山本英树;盐浜徹;小泽弘明;池田笃重;藤本穰 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 在分析控制部(5)的控制下,质谱分析部(2)在导入测定对象试样中的目标成份的时间范围内针对该目标成份执行产物离子扫描测定,并且,在相同的时段执行包含源自标准成分的离子的m/z的m/z范围的扫描测定。质量校正信息计算部(42)根据在通过扫描测定所得到的MS谱上观测到的源自标准成分的离子的m/z的实测值和理论值来求出质量校正信息。质量校正部(43)利用该质量校正信息,来校正在通过在与该扫描测定相同的循环中执行的产物离子扫描测定所得到的MS/MS谱上观测到的源自目标成份的各离子峰的m/z。能够视作大致同时实施该循环中的MS测定与MS/MS测定,因此能够进行与内部标准法大致同等的质量校正。 | ||
搜索关键词: | 串联 谱分析 装置 | ||
【主权项】:
一种串联型质谱分析装置,具备:第一质量分离部,其在源自试样的离子中筛选具有特定质荷比的离子来作为前体离子;碰撞室,其使该前体离子裂解;以及第二质量分离部,其对通过该裂解所生成的各种产物离子进行质谱分析,该串联型质谱分析装置的特征在于,具备:a)分析控制部,其对各部进行控制,以使将扫描测定和产物离子扫描测定各执行至少一次的循环在规定时间范围内重复,在所述扫描测定中,不使离子在所述碰撞室内裂解,而利用所述第一质量分离部或所述第二质量分离部来实施遍及规定质荷比范围的质量扫描,在所述产物离子扫描测定中,使离子在所述碰撞室内裂解,并且利用所述第二质量分离部来实施遍及规定质荷比范围的质量扫描;以及b)校正处理部,其对于通过针对测定对象试样中的成分进行产物离子扫描测定所得到的源自该成分的产物离子的质荷比,利用通过在与该产物离子扫描测定相同的循环中实施的扫描测定或者与该循环最近的其它循环的扫描测定所得到的源自标准成分的离子的质荷比来进行校正,所述标准成分是已知精确的质量的成分。
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