[发明专利]一种PCB网络导通不良的分析方法在审

专利信息
申请号: 201610009240.7 申请日: 2016-01-01
公开(公告)号: CN105629124A 公开(公告)日: 2016-06-01
发明(设计)人: 况东来;胡梦海;陈蓓 申请(专利权)人: 广州兴森快捷电路科技有限公司;深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司;广州市兴森电子有限公司
主分类号: G01R31/02 分类号: G01R31/02
代理公司: 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 代理人: 汤喜友
地址: 510663 广东省广州市广*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种PCB网络导通不良的分析方法,包括以下步骤:S1、查询PCB网络线路的网络点,并进行网络点分段形成分段网络;S2、对各分段网络分别测量电阻,若电阻值大于5MΩ,则判断该分段网络为开路,若电阻值的阻值的范围为10Ω-5MΩ,则判断该分段网络为微开;S3、a.对于判断为开路的情况:对不良位置的通孔或盲孔或线路进行缺陷分析;b.对于分段网络判断为微开的情况:对对应的分段网络通入直流电流进行加热,再用红外热像仪观察出温度最高点,该温度最高点即为不良位置,最后对该不良位置进行缺陷分析。本发明能快速、准确地在网络线路中找出不良位置并加以分析。
搜索关键词: 一种 pcb 网络 不良 分析 方法
【主权项】:
一种PCB网络导通不良的分析方法,其特征在于包括以下步骤:S1、查询PCB网络线路的网络点,并进行网络点分段形成分段网络;S2、对各分段网络分别测量电阻,若电阻值大于5MΩ,则判断该分段网络为开路,若电阻值阻值的范围为10Ω‑5MΩ,则判断该分段网络为微开;S3、a.对于判断为开路的情况:对不良位置的通孔或盲孔或线路进行缺陷分析;b.对于分段网络判断为微开的情况:对对应的分段网络通入直流电流进行加热,再用红外热像仪观察出温度最高点,该温度最高点即为不良位置,最后对该不良位置进行缺陷分析。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广州兴森快捷电路科技有限公司;深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司;广州市兴森电子有限公司,未经广州兴森快捷电路科技有限公司;深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司;广州市兴森电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610009240.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top