[发明专利]内存单元数组中筛除离群位及检测位线短路的方法有效
| 申请号： | 201610020349.0 | 申请日： | 2016-01-13 |
| 公开（公告）号： | CN106971755B | 公开（公告）日： | 2020-06-09 |
| 发明（设计）人： | 陈建廷;蔡耀庭;廖修汉;连世璋 | 申请（专利权）人： | 华邦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/04 | 分类号： | G11C29/04 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 马雯雯;臧建明 |
| 地址： | 中国台湾台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种内存单元数组中筛除离群位及检测位线短路的方法。内存单元数组中筛除离群位的方法包括：提供一内存单元数组。内存单元数组包括多个内存单元、多条字符线、多条位线以及多条源极线，且各内存单元连接至一条位线、一条字符线以及一条源极线。输入一第一电压给由这些位线选择出来的一条选择位线，输入一第二电压给未选择位线，并且量测内存单元的临界电压。筛除临界电压离群的内存单元的位。本发明的内存单元数组中筛除离群位的方法可以有效筛除离群且不符规范的位，内存单元数组的位线短路的检测方法可以提升检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 内存 单元 数组 筛除 离群 检测 短路 方法 | ||
【主权项】：
一种内存单元数组的位线短路的检测方法，其特征在于，包括：提供一内存单元数组，所述内存单元数组包括多个内存单元、多条字符线、多条位线以及多条源极线，各所述内存单元连接至一条位线、一条字符线以及一条源极线；输入一第一电压给由所述多条位线选择出来的一条选择位线，输入一第二电压给未选择位线，并且量测所述多个内存单元的临界电压；以及筛除临界电压被扰动的内存单元的位。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华邦电子股份有限公司，未经华邦电子股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610020349.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
