[发明专利]一种通用的芯片性能验证装置及方法

摘要

本发明公开了一种通用的芯片性能验证装置及方法，包括：建立由多个性能统计项构成的性能统计项注册池，并据性能需求在性能统计项注册池中选取项性能统计项进行注册；信息收集模块根据被注册的各性能统计项所需收集、存储相关性能指标信息；设置统一的时间窗口，时间窗口来临时通过事件告知各个被注册的性能统计项以及报告输出模块；每个被注册的性能统计项调用通用方法模块中相应的计算方法和相关性能指标信息，计算并存储在当前时间窗口对应的性能指标值，并通过报告输出模块打印输出。本发明解决了现有验证方案对性能指标验证关注度不够、性能验证平台不能复用问题，增强性能验证平台的可移植性，降低成本，提高工作效率。

主权项

一种通用的芯片性能验证装置，其特征在于，包括：性能统计项注册池，由多个不同的性能统计项构成，每个所述性能统计项计算一项性能指标值，用户根据所验证芯片的性能需要注册相应的所述性能统计项；时间窗口模块，根据仿真时间以及用户需求设置统一的时间窗口，在每次时间窗口来临时发送时间窗口来临事件；信息收集模块，仿真开始后收集、存储被注册性能统计项性能指标信息，在时间窗口来临时，向被注册性能统计项传输该时间窗口内对应的性能指标信息；通用方法模块，在被注册所述性能统计项收到时间窗口来临事件后，向被注册的每个所述性能统计项提供性能指标值的计算方法；报告输出模块，在收到每个时间窗口来临事件时轮询所有被注册性能统计项，并输出对应的性能指标值报告。