[发明专利]改进型存储器错误检测方法及装置在审
| 申请号： | 201610053290.5 | 申请日： | 2016-01-26 |
| 公开（公告）号： | CN105719702A | 公开（公告）日： | 2016-06-29 |
| 发明（设计）人： | 叶甜春 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G11C29/42 | 分类号： | G11C29/42;G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京蓝智辉煌知识产权代理事务所(普通合伙) 11345 | 代理人： | 陈红 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种存储器错误检测装置，在同一个芯片上包括控制装置、存储器单元阵列、页缓冲器、错误检测单元以及IO缓冲器，错误检测单元位于页缓冲器与IO缓冲器之间用于在控制装置的控制下对存储器单元阵列中的错误进行检测，其中，页缓冲器至少包括用于以将测试数据与预加载的参考数据进行比较的装置，错误检测单元至少包括预加载标志寄存器，用于记录芯片是否已经预加载了标准参考数据。依照本发明的存储器错误检测方法及装置，对在页缓冲器和IO缓冲器之间构建的内部错误检测单元以及检测流程进行优化，采用预加载参考数据技术结合页缓冲器内部比较机制，简化错误检测单元设计，缩短测试时间，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 改进型 存储器 错误 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种存储器错误检测装置，在同一个芯片上包括控制装置、存储器单元阵列、页缓冲器、错误检测单元以及IO缓冲器，错误检测单元位于页缓冲器与IO缓冲器之间用于在控制装置的控制下对存储器单元阵列中的错误进行检测，其中，页缓冲器至少包括用于以将测试数据与预加载的参考数据进行比较的装置，错误检测单元至少包括预加载标志寄存器，用于记录芯片是否已经预加载了标准参考数据。
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