[发明专利]采样电阻校正电路、电流检测电路及驱动电路有效
| 申请号： | 201610065011.7 | 申请日： | 2016-01-29 |
| 公开（公告）号： | CN105548660B | 公开（公告）日： | 2018-06-22 |
| 发明（设计）人： | 李明松 | 申请（专利权）人： | 美的集团武汉制冷设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00;G01R15/00 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人： | 张全文 |
| 地址： | 430056 湖北省*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 一种采样电阻校正电路、电流检测电路及驱动电路，采样电阻校正电路包括：第一预设铜箔，用作采样电阻；分压电路，包括第二预设铜箔，其中，所述第一预设铜箔和第二预设铜箔布设于电路板上控制单元，与所述第二预设铜箔连接，所述控制单元检测所述分压电路输出的分压电压，根据所述分压电压得到所述待校正参数，并以所述待校正参数计算并校正预存储的所述第一预设铜箔的电阻值。采用低成本的布线铜箔做电流采样也可以做到较高的采样精度，并利用整块电路板作为散热，使得采样铜箔发热量低。 | ||
| 搜索关键词： | 铜箔 预设 采样电阻 校正电路 电流检测电路 电路板 分压电路 分压电压 驱动电路 校正参数 采样 控制单元检测 上控制单元 发热量 布线铜箔 电流采样 低成本 预存储 布设 散热 电阻 整块 校正 输出 | ||
【主权项】：
1.一种采样电阻校正电路，其特征在于，包括：第一预设铜箔，连接于主电路中，用作该主电路的采样电阻；分压电路，包括第二预设铜箔，其中，所述第一预设铜箔和第二预设铜箔布设于电路板上，两者的长度、宽度和厚度中有一个相同的待校正参数；控制单元，与所述第二预设铜箔连接，预存储所述第一预设铜箔和第二预设铜箔的长度、宽度和厚度中除所述待校正参数外的参数，所述控制单元检测所述分压电路输出的分压电压，根据所述分压电压得到所述第二预设铜箔的电阻值，并根据所述第二预设铜箔的电阻值得到所述待校正参数，并以所述待校正参数计算并校正预存储的所述第一预设铜箔的电阻值。
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