[发明专利]一种用于电子元器件的参数测试系统以及测试方法有效
| 申请号： | 201610086886.5 | 申请日： | 2016-02-16 |
| 公开（公告）号： | CN105717393B | 公开（公告）日： | 2019-10-18 |
| 发明（设计）人： | 赵浩华;高志齐;孙伯乐;刘瑜;王恒斌 | 申请（专利权）人： | 常州同惠电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 常州市维益专利事务所(普通合伙) 32211 | 代理人： | 肖兴江 |
| 地址： | 213000 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明属于电子测量技术领域，特别设计一种用于对电子元器件参数进行测试的测试系统和测试方法。一种用于电子元器件的参数测试系统，其特征在于：包括控制电路，用于对各个模块进行控制和进行数据的计算分析；控制电路连接有第一交直流产生功放电路，用于提供交直流测试信号；第一交直流产生功放电路与第一测试端连接，第一测试端与被测电子元器件的一端连接，还包括与控制电路连接的第二交直流产生功放电路，第二交直流产生功放电路与可调电阻单元连接，可调电阻单元连接有第四测试端，第四测试端与被测电子元器件的另一端连接，第三测试端亦与被测电子元器件的另一端连接，第三测试端连接有信号转换电路连接，信号转换电路与控制电路连接。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 电子元器件 参数 测试 系统 以及 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于电子元器件的参数测试系统，其特征在于：包括控制电路，用于对各个模块进行控制和进行数据的计算分析；控制电路连接有第一交直流产生功放电路，用于提供交直流测试信号；第一交直流产生功放电路与第一测试端连接，第一测试端与被测电子元器件的一端连接，还包括与控制电路连接的第二交直流产生功放电路，第二交直流产生功放电路与可调电阻单元连接，可调电阻单元连接有第四测试端，第四测试端与被测电子元器件的另一端连接，第三测试端亦与被测电子元器件的另一端连接，第三测试端连接有信号转换电路连接，信号转换电路与控制电路连接；上述测试系统的测试过程包括以下步骤：本测试过程中的符号、公式和计算都是向量的符号和运算公式；Z为被测电子元器件的参数；R为可调电阻单元的参数；步骤1：控制电路控制第一交直流产生功放电路和第二交直流产生功放电路产生测试信号V0和V1；步骤2：计算V0经过被测电子元器件产生的电流IS，![]()
计算V1经过可调电阻单元产生的电流Ir；![]()
步骤3：计算经过第三测试端的电流Ip，Ip＝Ir+Is；步骤4：Ip经过信号转换电路输送给控制电路，控制电路控制第二交直流产生功放电路调整V1信号，使Ip＝0；即Ip＝Ir+Is＝0；将步骤2中的IS和Ir代入，得到：![]()
到推算得![]()
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