[发明专利]基于精细调相的建立保持时间测试系统和方法在审

专利信息
申请号: 201610100844.2 申请日: 2016-02-24
公开(公告)号: CN105759195A 公开(公告)日: 2016-07-13
发明(设计)人: 王健;肖爰龙;来金梅 申请(专利权)人: 复旦大学
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 上海正旦专利代理有限公司 31200 代理人: 陆飞;盛志范
地址: 200433 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明属于集成电路技术领域,具体为基于精细调相的建立保持时间测试系统和方法。本发明利用锁相环的精细调相功能,用两个相位可调的时钟信号,进行建立保持时间的测试。首先,通过锁相环的精细调相功能,产生两个相位差可调的时钟信号;通过时钟网络,将两个时钟信号分别接到待测模块的待测信号端和时钟端;不断地改变两个时钟信号的相位差,测出待测信号的建立保持时间。本发明只需要一个具有相位可调功能的锁相环,外加可以到达待测模块端口的时钟网络通道,就可以完成对芯片内待测信号的建立保持时间的测试,在FPGA芯片电参数测试、ASIC芯片电参数测试等方面具有很好的应用价值。本发明具有测试成本低、抗干扰性强、可移植性好、通用性强等特点。
搜索关键词: 基于 精细 调相 建立 保持 时间 测试 系统 方法
【主权项】:
基于精细调相的建立保持时间测试系统,其特征在于,包括:精细调相模块、时钟网络、待测电路模块、仲裁电路模块和控制电路模块;其中,所述精细调相模块用于产生相位差可调的两个信号即信号1和信号2;两个信号通过时钟网络接到芯片中任意待测电路模块;待测电路模块的输出响应接到仲裁电路模块中;仲裁电路模块对输出响应进行处理,以确定测试的结果;控制电路模块用于控制精细调相模块、待测电路模块、仲裁电路模块的协调工作。
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