[发明专利]场致离子发射体的制备方法在审

专利信息
申请号: 201610104405.9 申请日: 2016-02-25
公开(公告)号: CN105609394A 公开(公告)日: 2016-05-25
发明(设计)人: 刘宇明;张凯;李蔓;赵春晴;刘向鹏 申请(专利权)人: 北京卫星环境工程研究所
主分类号: H01J9/02 分类号: H01J9/02;F03H1/00;B82Y40/00;C23C14/24;C23C14/35
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摘要: 发明公开了一种场致离子发射体制备方法,包括在碳纳米管阵列表面,通过热蒸镀或者电子束蒸发、磁控溅射方法在碳纳米管阵列表面镀上一层低熔点金属铟(In)或镓(Ga),作为场致发射的发射体。本发明的制备方法可以降低场致离子发射体的制备难度,减小发射体的尺寸,从而提高场致离子发射器的整体性能。将该发射体放入场致离子发射测试装置,其可以在1500V电压下实现发射。而一般采用微米级尖状发射体发射电压需要3000-5000V。
搜索关键词: 离子 发射 制备 方法
【主权项】:
一种场致离子发射体制备方法,包括如下步骤:在碳纳米管阵列表面,通过热蒸镀或者电子束蒸发、磁控溅射方法在碳纳米管阵列表面镀上一层低熔点金属铟(In)或镓(Ga),作为场致发射的发射体。
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