[发明专利]用于求取到套准传感器的分析处理范围的方法有效
| 申请号： | 201610119533.0 | 申请日： | 2016-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN105938422B | 公开（公告）日： | 2018-03-20 |
| 发明（设计）人： | H·法伊斯陶尔;E·海特曼;H·莱昂哈尔特 | 申请（专利权）人： | 海德堡印刷机械股份公司 |
| 主分类号： | G06F3/12 | 分类号： | G06F3/12 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司72002 | 代理人： | 曾立 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种自动定位，该自动定位为一种用于求取到套准传感器(4)的分析处理范围(ROI)的方法，用于确定在加工承印材料的机器内检测在承印材料(1)上的套准标记(2)的套准传感器(4)的所述分析处理范围(ROI)，其中，所述套准传感器(4)与计算机(5)连接。本发明的特征在于，所述套准传感器(4)在第一步骤中测量承印材料(1)的边(3)，并且依据所述边(3)设置所述分析处理范围的起始值(ROIStart)，然后，在至少第二步骤中，所述分析处理范围被设置为一个更大值(ROIEnde)，直到被所述套准传感器(4)识别出所述套准标记(2)的第一条边。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 定位 | ||
【主权项】：
一种用于求取到套准传感器(4)的分析处理范围的方法，所述套准传感器用于检测在加工承印材料的机器中的承印材料(1)上的套准标记(2)，其中，所述套准传感器(4)与计算机(5)连接，其特征在于，在第一步骤中，所述套准传感器(4)测量承印材料(1)的棱边(3)，并且，依据该棱边(3)将所述分析处理范围设置到起始值，然后，在至少一个第二步骤中，将所述分析处理范围设置到如下增大的值：该值增大直至所述套准传感器(4)识别到所述套准标记(2)的第一棱边为止。
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