[发明专利]一种紫外激光光刻方法有效
申请号: | 201610128594.3 | 申请日: | 2016-03-08 |
公开(公告)号: | CN105549342B | 公开(公告)日: | 2019-01-08 |
发明(设计)人: | 谭振贤;何键云 | 申请(专利权)人: | 佛山市国星半导体技术有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 胡枫 |
地址: | 528226 广东省佛山市南海区狮*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供了一种紫外激光光刻方法,包括提供待光刻半导体晶圆,对所述半导体晶圆涂覆光刻胶;采用紫外激光发生器对所述半导体晶圆进行曝光,其中,所述紫外激光发生器出射紫外激光的路径上具有聚光镜组,从而可以通过调节紫光激光的能量和大小,进而可以采用尽可能高的能量和尽可能小的激光点进行曝光,以满足更快速、更高精度、更高成像质量的光刻要求。 | ||
搜索关键词: | 一种 紫外 激光 光刻 方法 | ||
【主权项】:
1.一种紫外激光光刻方法,其特征在于,包括:提供待光刻半导体晶圆,对所述半导体晶圆涂覆光刻胶;采用紫外激光发生器对所述半导体晶圆进行曝光,其中,所述紫外激光发生器出射紫外激光的路径上具有聚光镜组,以通过聚光镜组来形成高能量的紫外激光点;所述聚光镜组包括:沿紫外激光发射方向依次设置的一个反射透镜和一个聚光透镜;所述反射透镜靠近紫外激光发射一面为反射镜面,所述反射透镜在紫外激光发生器一侧表面具有透光微孔,所述透光微孔涂有抗反射涂层,其中,反射透镜将经过其自身的紫外光变成平行光束。
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