[发明专利]嵌入式闪存的检测电路和微调方法、嵌入式闪存有效
| 申请号： | 201610135967.X | 申请日： | 2016-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN105609142B | 公开（公告）日： | 2018-07-31 |
| 发明（设计）人： | 李鸣 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/50 | 分类号： | G11C29/50 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 张振军;吴敏 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种嵌入式闪存的检测电路和微调方法、嵌入式闪存，所述嵌入式闪存的检测电路适于检测嵌入式闪存在编程状态下的编程电压或在擦除状态下的擦除电压，包括：测试通道选择电路，与固定测试点耦接，测试通道选择电路输入有使能信号；电压比较电路，与测试通道选择电路耦接；其中，当使能信号为第一逻辑电平时，固定测试点经由测试通道选择电路对编程电压或擦除电压进行检测；当使能信号为不同于第一逻辑电平的第二逻辑电平时，固定测试点经由测试通道选择电路耦接至电压比较电路，电压比较电路将编程电压或擦除电压与固定测试点上的参考电压进行比较以产生检测结果；所述检测结果适于传输至微调电路。本发明可大大缩短编程电压或擦除电压的检测时间。 | ||
| 搜索关键词： | 嵌入式 闪存 检测 电路 微调 方法 | ||
【主权项】：
1.一种嵌入式闪存的检测电路，适于检测嵌入式闪存在编程状态下的编程电压或在擦除状态下的擦除电压，其特征在于，所述嵌入式闪存的检测电路包括：测试通道选择电路，与固定测试点耦接，所述测试通道选择电路输入有使能信号；电压比较电路，与所述测试通道选择电路耦接；其中，当所述使能信号为第一逻辑电平时，所述固定测试点经由所述测试通道选择电路对所述编程电压或擦除电压进行检测；当所述使能信号为不同于所述第一逻辑电平的第二逻辑电平时，所述固定测试点经由所述测试通道选择电路耦接至所述电压比较电路，所述电压比较电路将所述编程电压或擦除电压与所述固定测试点上的参考电压进行比较以产生检测结果；所述检测结果适于传输至微调电路，所述微调电路适于根据所述检测结果对所述编程电压或擦除电压进行调节以达到目标电压。
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