[发明专利]一种发光二极管的光学检测装置有效
| 申请号： | 201610136208.5 | 申请日： | 2016-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN107179177B | 公开（公告）日： | 2022-04-01 |
| 发明（设计）人： | 赵堂钟;尤家鸿;曾培翔;陈达享 | 申请（专利权）人： | 晶元光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01J1/04 |
| 代理公司： | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人： | 章社杲;李伟 |
| 地址： | 中国台湾新*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种发光二极管的光学检测装置，用以检测发光二极管，包括：一载具，包括：一承载台，用以承载待检测的发光二极管，该承载台具有一第一表面及与该第一表面相对的一第二表面；一支撑体，连接于该承载台，且该支撑体具有一凸部凸伸于该承载台的第一表面，以使该支撑体及该承载台共同围设形成一凹穴；一第一真空孔，设于该支撑体，且该第一真空孔与该凹穴连通；一收光器，是朝向该承载台设置；以及一波长转换组件，设于该承载台或该收光器。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 发光二极管 光学 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种发光二极体的光学检测装置，包括：一载具，包括：一承载台，用以承载待检测的发光二极体，该承载台具有一第一表面及与该第一表面相对的一第二表面；一支撑体，连接于该承载台，且该支撑体具有一凸部凸伸于该承载台的第一表面，以使该支撑体及该承载台共同围设形成一凹穴；一第一真空孔，设于该支撑体，且该第一真空孔与该凹穴连通；以及一收光器，是朝向该承载台设置。
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